Yoshida Y., Awaji S., Matsumoto K., Ichino Y., Horide T., Mele P., Murayama T., Takata K.
Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, lattice parameter, pinning, nanorods, nanoscaled effects, multilayered structures, substrate SrTiO3, PLD process, critical caracteristics, critical temperature, critical current density, thickness dependence, Jc/B curves, angular dependence, resistivity
J Applied Physics, 2013, v.114, N 7, p.73903
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.